基本信息
标准名称: | 高纯砷化学分析方法 电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯砷中杂质含量 |
英文名称: | Method for chemical analysis of the high-purity arsenic—Inductive coupling plasma mass spectrum (ICP-MS) for determinating the concentration of elements in the high-purity arsenic |
中标分类: | 冶金 >> 金属化学分析方法 >> 半金属及半导体材料分析方法 |
ICS分类: | 冶金 >> 金属材料试验 >> 金属材料化学分析 |
替代情况: | 替代YS/T 34.1~34.2-1992 |
发布部门: | 中华人民共和国工业和信息化部 |
发布日期: | 2011-12-20 |
实施日期: | 2012-07-01 |
首发日期: | |
作废日期: | |
主管部门: | 全国有色金属标准化技术委员会 |
归口单位: | 全国有色金属标准化技术委员会 |
起草单位: | 峨嵋半导体材料厂、峨眉山嘉美高纯材料有限公司 |
起草人: | 程高明、邹同贵、文英、唐云博、廖敏 |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 2012-07-01 |
页数: | 12页 |
适用范围
本标准规定了高纯砷中金属杂质含量的测定方法,采用电感耦合等离子质谱法测定砷中镁、铬、镍、铜、锌、银、锑、铅、铋、钠、钾、铝、钙、铁等14个杂质含量。
本标准适用于99.999%~99.99999%高纯砷中金属杂质含量的测定。测定范围1×10-7% ~1000×10-7% 。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类: 冶金 金属化学分析方法 半金属及半导体材料分析方法 冶金 金属材料试验 金属材料化学分析